高低溫沖擊試驗箱和高低溫循環(huán)試驗箱的區(qū)別

高低溫沖擊試驗箱主要適用于電工電子元器件的安全性能測試提供安全可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等質(zhì)量的檢測，同時經(jīng)過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和安全性，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

那么高低溫沖擊試驗箱與高低溫循環(huán)試驗箱的區(qū)別有哪些尼？高低溫沖擊試驗箱采用二槽式或者三槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗采用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要不小于50℃/分鐘。溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為了避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須不大于20℃/分鐘。還有為了達到蠕變以及疲勞損傷的效果，推薦試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各15分鐘。

其次高低溫沖擊試驗箱與高低溫循環(huán)試驗箱的差異在于應力負荷機理不同。沖擊試驗主要檢測由于蠕變以及疲勞損傷導致的失效，而溫度循環(huán)主要檢測由于剪切疲勞導致的失效。引起溫度沖擊的原因是回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。